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產(chǎn)品動(dòng)態(tài)
Agilent 81949A 可調(diào)激光源
光源/可調(diào)光源
Agilent 81949A 可調(diào)激光源：安捷倫原裝，高穩(wěn)定性，適配光通信測(cè)試
81657A
光源/可調(diào)光源
?波長(zhǎng)范圍?：800–1700 nm，覆蓋O/E/S/C/L/U全波段；
??功率測(cè)量范圍?：-80 dBm 至 +23 dBm，支持自動(dòng)量程切換；
??功率測(cè)量精度?：±0.02 dB（典型值），校準(zhǔn)后（23°C±5°C）；
??分辨率?：0.001 dB（高精度模式）；
??探測(cè)器類型?：InGaAs（低噪聲設(shè)計(jì)）；
??連接器接口?：FC/PC（標(biāo)配），可選FC/APC或SC接口；
??校準(zhǔn)波長(zhǎng)點(diǎn)?：850/980/1310/1490/1550/1625 nm（NIST可溯源）；
??通信接口?：GPIB/USB/LAN，支持SCPI遠(yuǎn)程控制；
??典型應(yīng)用?：光模塊生產(chǎn)測(cè)試、光纖鏈路損耗測(cè)量、無源器件插損分析。
??功率測(cè)量范圍?：-80 dBm 至 +23 dBm，支持自動(dòng)量程切換；
??功率測(cè)量精度?：±0.02 dB（典型值），校準(zhǔn)后（23°C±5°C）；
??分辨率?：0.001 dB（高精度模式）；
??探測(cè)器類型?：InGaAs（低噪聲設(shè)計(jì)）；
??連接器接口?：FC/PC（標(biāo)配），可選FC/APC或SC接口；
??校準(zhǔn)波長(zhǎng)點(diǎn)?：850/980/1310/1490/1550/1625 nm（NIST可溯源）；
??通信接口?：GPIB/USB/LAN，支持SCPI遠(yuǎn)程控制；
??典型應(yīng)用?：光模塊生產(chǎn)測(cè)試、光纖鏈路損耗測(cè)量、無源器件插損分析。
81663A
光源/可調(diào)光源
?波長(zhǎng)范圍?：1480–1640 nm（覆蓋C+L波段）
??輸出功率?：最高 ??+13 dBm?
?功率穩(wěn)定性?：< ??±0.01 dB?（持續(xù)8小時(shí)）
?光譜線寬?：< ?100 kHz?（典型值）
?波長(zhǎng)精度?：±1 pm（校準(zhǔn)后）
?調(diào)諧步長(zhǎng)?：最小1 pm
??輸出功率?：最高 ??+13 dBm?
?功率穩(wěn)定性?：< ??±0.01 dB?（持續(xù)8小時(shí)）
?光譜線寬?：< ?100 kHz?（典型值）
?波長(zhǎng)精度?：±1 pm（校準(zhǔn)后）
?調(diào)諧步長(zhǎng)?：最小1 pm
81656A
光源/可調(diào)光源
?覆蓋 ?1480-1640nm?（C+L波段），分辨率 ?0.1pm?
?支持 ?ITU-T DWDM? 標(biāo)準(zhǔn)通道（50GHz/100GHz間隔）
?可擴(kuò)展至 ?1260-1650nm?（選配O/E/S波段模塊）
?兼容 ?Keysight 816x系列? 主框架
?通信接口：
?標(biāo)配：GPIB/USB
?選配：LAN（LXI-C類）
?支持 ?SCPI/Python/LabVIEW? 控制
?支持 ?ITU-T DWDM? 標(biāo)準(zhǔn)通道（50GHz/100GHz間隔）
?可擴(kuò)展至 ?1260-1650nm?（選配O/E/S波段模塊）
?兼容 ?Keysight 816x系列? 主框架
?通信接口：
?標(biāo)配：GPIB/USB
?選配：LAN（LXI-C類）
?支持 ?SCPI/Python/LabVIEW? 控制
81655A
光源/可調(diào)光源
? ?波長(zhǎng)范圍?：700~1700nm（覆蓋O/E/S/C/L波段）
?? 動(dòng)態(tài)范圍?：+3dBm ~ -90dBm，分辨率達(dá) ?0.001dB?
? ?校準(zhǔn)精度?：±0.02dB（支持用戶自定義校準(zhǔn)）
? ?采樣速率?：10μs 高速采樣，捕捉瞬態(tài)功率波動(dòng)
?? 數(shù)據(jù)分析?：內(nèi)置趨勢(shì)圖/直方圖，支持BER估算
? ?自動(dòng)化測(cè)試?：兼容Keysight主機(jī)構(gòu)架，支持SCPI指令控制
?? 長(zhǎng)期穩(wěn)定性?：功率波動(dòng)<0.01dB，適合老化測(cè)試
? ?低噪聲設(shè)計(jì)?：確保微弱信號(hào)測(cè)量準(zhǔn)確性
?? 動(dòng)態(tài)范圍?：+3dBm ~ -90dBm，分辨率達(dá) ?0.001dB?
? ?校準(zhǔn)精度?：±0.02dB（支持用戶自定義校準(zhǔn)）
? ?采樣速率?：10μs 高速采樣，捕捉瞬態(tài)功率波動(dòng)
?? 數(shù)據(jù)分析?：內(nèi)置趨勢(shì)圖/直方圖，支持BER估算
? ?自動(dòng)化測(cè)試?：兼容Keysight主機(jī)構(gòu)架，支持SCPI指令控制
?? 長(zhǎng)期穩(wěn)定性?：功率波動(dòng)<0.01dB，適合老化測(cè)試
? ?低噪聲設(shè)計(jì)?：確保微弱信號(hào)測(cè)量準(zhǔn)確性
81654A
光源/可調(diào)光源
? 應(yīng)用領(lǐng)域：光通信測(cè)試、DWDM、相干通信、光纖傳感、器件表征
? 波長(zhǎng)范圍：1480~1640nm（可擴(kuò)展），±0.2pm高精度
? 光譜特性：超窄線寬（<100kHz），低RIN噪聲（<-155dB/Hz）
? 輸出模式：支持CW連續(xù)波和調(diào)制激光輸出
? 穩(wěn)定性：功率波動(dòng)<0.01dB，適合長(zhǎng)期測(cè)試
? 系統(tǒng)集成：兼容Agilent主機(jī)構(gòu)架，支持自動(dòng)化控制
? 典型用途：光器件測(cè)試、系統(tǒng)驗(yàn)證、實(shí)驗(yàn)室研發(fā)
? 波長(zhǎng)范圍：1480~1640nm（可擴(kuò)展），±0.2pm高精度
? 光譜特性：超窄線寬（<100kHz），低RIN噪聲（<-155dB/Hz）
? 輸出模式：支持CW連續(xù)波和調(diào)制激光輸出
? 穩(wěn)定性：功率波動(dòng)<0.01dB，適合長(zhǎng)期測(cè)試
? 系統(tǒng)集成：兼容Agilent主機(jī)構(gòu)架，支持自動(dòng)化控制
? 典型用途：光器件測(cè)試、系統(tǒng)驗(yàn)證、實(shí)驗(yàn)室研發(fā)
Santec TSL-770
光源/可調(diào)光源
? 200nm/s 快速掃描
? 線寬 < 60kHz
? < 1/10 頻率波動(dòng) (vs. 常規(guī)型號(hào))
? 線寬 < 60kHz
? < 1/10 頻率波動(dòng) (vs. 常規(guī)型號(hào))
81600B keysight
光源/可調(diào)光源
? 通過低自發(fā)源發(fā)射（低 SSE）實(shí)現(xiàn)最高測(cè)量范圍，信號(hào)與 SSE 比 >70 dB/nm
? 可變掃描速度高達(dá) 80 納米/秒
? 寬調(diào)諧范圍單元，覆蓋所有傳輸波段： 1260 納米 - 1640 納米
? 內(nèi)置波長(zhǎng)計(jì)，波長(zhǎng)精度高達(dá) ±3.6 pm
? 光輸出功率高達(dá) +9 dBm，內(nèi)置高性能 60 dB 衰減器
? 可變掃描速度高達(dá) 80 納米/秒
? 寬調(diào)諧范圍單元，覆蓋所有傳輸波段： 1260 納米 - 1640 納米
? 內(nèi)置波長(zhǎng)計(jì)，波長(zhǎng)精度高達(dá) ±3.6 pm
? 光輸出功率高達(dá) +9 dBm，內(nèi)置高性能 60 dB 衰減器
6317A ceyear
光源/可調(diào)光源
? 全范圍無跳模設(shè)計(jì)，可以在1500nm～1600nm波段實(shí)現(xiàn)無跳?？焖俨ㄩL(zhǎng)掃描，掃描速度可達(dá)200nm/s。
? 高波長(zhǎng)精度設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)0.1pm波長(zhǎng)設(shè)置分辨率和±20pm波長(zhǎng)絕對(duì)精度。
? 高功率穩(wěn)定輸出功能，峰值輸出光功率大于13dBm，全范圍光功率大于10dBm。
? 支持用戶定制化開發(fā)，可根據(jù)具體測(cè)試需求，配置光功、光衰、光偏振等各種儀器模塊組成相關(guān)測(cè)試系統(tǒng)。
? 高波長(zhǎng)精度設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)0.1pm波長(zhǎng)設(shè)置分辨率和±20pm波長(zhǎng)絕對(duì)精度。
? 高功率穩(wěn)定輸出功能，峰值輸出光功率大于13dBm，全范圍光功率大于10dBm。
? 支持用戶定制化開發(fā)，可根據(jù)具體測(cè)試需求，配置光功、光衰、光偏振等各種儀器模塊組成相關(guān)測(cè)試系統(tǒng)。
