一、產(chǎn)品差異化優(yōu)點(diǎn)

• 多參數(shù)一體化，測(cè)試效率躍升：集成插入損耗、回波損耗、PDL、色散、偏振模色散（PMD）等核心參數(shù)測(cè)試功能，無需多臺(tái)設(shè)備協(xié)同，一次連接即可完成全維度表征，相較于分立測(cè)試方案，大幅縮短測(cè)試周期，降低操作復(fù)雜度。

• 高精度高穩(wěn)定，數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠：PDL測(cè)試分辨率達(dá)0.001dB，插入損耗重復(fù)性±0.002dB，波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±1pm，測(cè)量不確定度低，采用高穩(wěn)定性光學(xué)架構(gòu)與溫度補(bǔ)償技術(shù)，長(zhǎng)期運(yùn)行數(shù)據(jù)一致性優(yōu)異，為精準(zhǔn)表征提供核心保障。

• 寬頻多纖兼容，場(chǎng)景覆蓋廣泛：波長(zhǎng)覆蓋1250-1650nm全波段，兼容單模、多模光纖及各類通用光連接器，適配光濾波器、耦合器、光開關(guān)、光放大器等多類型光器件測(cè)試，滿足研發(fā)、產(chǎn)線、科研等多元場(chǎng)景需求。

• 自動(dòng)化適配強(qiáng)，批量測(cè)試便捷：支持SCPI指令、IVI-COM驅(qū)動(dòng)，可靈活編寫自動(dòng)化測(cè)試腳本，無縫集成至產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，支持批量器件快速篩查與參數(shù)校準(zhǔn)，大幅提升產(chǎn)線吞吐量。

• 智能操作便捷，用戶體驗(yàn)優(yōu)異：配備15英寸高清觸控屏，內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試模板與智能數(shù)據(jù)處理算法，支持測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)分析、導(dǎo)出與報(bào)告生成，操作門檻低，同時(shí)兼容遠(yuǎn)程控制，適配無人值守測(cè)試場(chǎng)景。

二、產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)

三、應(yīng)用場(chǎng)景

• 光器件研發(fā)表征：為光濾波器、耦合器、光開關(guān)、光放大器、光隔離器等元器件研發(fā)提供全參數(shù)精準(zhǔn)表征，驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)性能，優(yōu)化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)與工藝，助力新產(chǎn)品迭代升級(jí)。

• 光模塊性能測(cè)試：用于光收發(fā)模塊、光傳輸模塊等核心光模塊的元器件級(jí)測(cè)試，表征模塊內(nèi)部光器件的關(guān)鍵參數(shù)，保障光模塊整體傳輸性能與穩(wěn)定性，適配通信設(shè)備廠商選型需求。

• 產(chǎn)線批量驗(yàn)證：集成至光器件量產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，對(duì)量產(chǎn)光器件進(jìn)行批量參數(shù)篩查與精準(zhǔn)校準(zhǔn)，通過快速掃描與自動(dòng)化流程，保障出廠產(chǎn)品性能一致性，大幅提升產(chǎn)線測(cè)試效率與產(chǎn)能。

• 教育科研實(shí)驗(yàn)：適配高校與科研院所的光通信技術(shù)教學(xué)與科研實(shí)驗(yàn)，可實(shí)現(xiàn)多參數(shù)精準(zhǔn)測(cè)量與數(shù)據(jù)可視化，幫助學(xué)生理解光器件特性，輔助科研人員開展新型光通信技術(shù)與器件研發(fā)。

• 光網(wǎng)絡(luò)運(yùn)維檢測(cè)：為通信運(yùn)營(yíng)商與運(yùn)維企業(yè)提供光網(wǎng)絡(luò)核心器件運(yùn)維檢測(cè)方案，定期表征光網(wǎng)絡(luò)中關(guān)鍵光器件的參數(shù)衰減與性能變化，提前排查網(wǎng)絡(luò)故障隱患，保障光網(wǎng)絡(luò)長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。