一、品牌介紹
吉時(shí)利(Keithley)成立于1946年,現(xiàn)隸屬于泰克科技(Tektronix),擁有七十余年先進(jìn)電氣測(cè)試儀器研發(fā)與服務(wù)經(jīng)驗(yàn),專注為半導(dǎo)體、電子制造、科研教育、新能源等領(lǐng)域提供高精度測(cè)試測(cè)量設(shè)備與解決方案。公司產(chǎn)品在80多個(gè)國(guó)家和地區(qū)銷售,在中國(guó)設(shè)立完善的銷售與服務(wù)網(wǎng)絡(luò),扎根本土市場(chǎng)需求。
吉時(shí)利在源測(cè)量領(lǐng)域積淀深厚,憑借在直流/交流測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì),研發(fā)出涵蓋系統(tǒng)源表、數(shù)字源表、皮安表等多個(gè)品類的產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件測(cè)試、新能源材料研究、電子元器件生產(chǎn)、高端裝備檢測(cè)等環(huán)節(jié)。多次榮獲R&D 100 Award等行業(yè)大獎(jiǎng),其測(cè)試儀器在全球工程師與科學(xué)家中樹立了可靠聲譽(yù),踐行“精準(zhǔn)測(cè)量解決方案提供者”的定位。
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
雙通道同步/獨(dú)立測(cè)試:配備兩個(gè)完全隔離的源測(cè)量通道,支持雙通道同步輸出、獨(dú)立控制及數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)分析,可實(shí)現(xiàn)多引腳器件、雙器件同步測(cè)試,大幅提升測(cè)試效率,適配多通道器件特性評(píng)估需求。
高精度源與測(cè)量性能:?jiǎn)瓮ǖ离妷狠敵龇秶?00V、電流輸出±1A,功率達(dá)100W;測(cè)量精度達(dá)6位半分辨率,電壓測(cè)量分辨率0.1μV、電流測(cè)量分辨率100pA,可精準(zhǔn)捕捉微弱信號(hào)與器件細(xì)微特性變化,保障測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。
豐富測(cè)量功能集成:集成電壓、電流、電阻、功率四合一測(cè)量功能,支持IV曲線掃描、脈沖測(cè)試、閾值測(cè)量等多種測(cè)試模式,可一站式完成器件多參數(shù)特性分析,無需額外搭配測(cè)試設(shè)備。
強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ):內(nèi)置高速數(shù)據(jù)采集模塊,每通道支持1000點(diǎn)/秒數(shù)據(jù)采樣;配備大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū),支持測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)緩存與批量導(dǎo)出,具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、曲線分析功能,便于測(cè)試結(jié)果復(fù)盤。
穩(wěn)定運(yùn)行與可靠保護(hù):采用抗干擾電路設(shè)計(jì),保障復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)量穩(wěn)定性;具備過壓、過流、過溫、過載保護(hù)功能,可有效保護(hù)被測(cè)器件與儀器本身,降低測(cè)試風(fēng)險(xiǎn);工作溫度范圍覆蓋0~50℃,適配實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)線長(zhǎng)期運(yùn)行需求。
靈活擴(kuò)展與便捷集成:支持USB、GPIB、LAN多種接口,可輕松集成于自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng);兼容吉時(shí)利Test Script Builder測(cè)試軟件,支持自定義測(cè)試腳本編寫,適配個(gè)性化測(cè)試需求;支持多臺(tái)儀器級(jí)聯(lián),擴(kuò)展測(cè)試通道數(shù)量。
三、產(chǎn)品規(guī)格
規(guī)格項(xiàng)目 | 詳細(xì)參數(shù) |
儀器類型 | 雙通道系統(tǒng)源表(SMU) |
測(cè)量通道 | 2個(gè)獨(dú)立源測(cè)量通道,完全隔離 |
電壓輸出范圍 | ±200V,分辨率0.1μV |
電流輸出范圍 | ±1A,分辨率100pA |
最大輸出功率 | 100W/通道 |
測(cè)量精度 | 6位半分辨率 |
電阻測(cè)量范圍 | 100mΩ~100GΩ |
數(shù)據(jù)采樣率 | 1000點(diǎn)/秒/通道(同步采樣) |
接口類型 | USB 2.0、GPIB(IEEE-488.2)、LAN(LXI-C) |
保護(hù)功能 | 過壓(OVP)、過流(OCP)、過溫(OTP)、過載保護(hù) |
工作溫度范圍 | 0℃~50℃ |
預(yù)熱時(shí)間 | 30分鐘(達(dá)到標(biāo)稱精度需滿足) |
外形尺寸(寬×高×深) | 426mm×132mm×470mm |
設(shè)備重量 | 11.8kg |
四、應(yīng)用場(chǎng)景
半導(dǎo)體器件測(cè)試:適配MOSFET、IGBT、二極管、三極管、傳感器等半導(dǎo)體器件測(cè)試,可完成IV特性、閾值電壓、漏電流、功耗等多參數(shù)測(cè)量,雙通道設(shè)計(jì)支持多器件同步測(cè)試,提升測(cè)試效率。
電子元器件生產(chǎn)測(cè)試:適用于電阻、電容、電感、連接器、繼電器等元器件的批量生產(chǎn)測(cè)試,可完成性能參數(shù)檢測(cè)、老化測(cè)試與分級(jí)篩選,保障生產(chǎn)質(zhì)量與產(chǎn)能。
新能源組件測(cè)試:適配鋰電池、光伏組件、儲(chǔ)能器件等新能源產(chǎn)品測(cè)試,可完成充放電特性、容量、內(nèi)阻、循環(huán)壽命等參數(shù)測(cè)量,滿足新能源領(lǐng)域測(cè)試需求。
研發(fā)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試:適配先進(jìn)材料研究、電子電路設(shè)計(jì)、芯片研發(fā)等科研場(chǎng)景,高精度測(cè)量性能可捕捉器件細(xì)微特性變化,支持自定義測(cè)試腳本,滿足科研過程中個(gè)性化測(cè)試需求,助力新技術(shù)研發(fā)。
質(zhì)量控制環(huán)節(jié):適用于電子器件及系統(tǒng)產(chǎn)品的質(zhì)量控制檢測(cè),可快速完成批量產(chǎn)品的多參數(shù)性能篩查,及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量問題,保障出廠產(chǎn)品一致性與可靠性。
自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成:支持USB、GPIB、LAN多種接口,可輕松集成于大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),適配電子制造、半導(dǎo)體封裝測(cè)試等領(lǐng)域自動(dòng)化、標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試需求,提升測(cè)試流程效率。