一、品牌介紹
吉時(shí)利（Keithley）成立于1946年，現(xiàn)隸屬于泰克科技（Tektronix），擁有七十余年先進(jìn)電氣測(cè)試儀器研發(fā)與服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，專注為半導(dǎo)體、電子制造、科研教育、新能源等領(lǐng)域提供高精度測(cè)試測(cè)量設(shè)備與解決方案。公司產(chǎn)品在80多個(gè)國(guó)家和地區(qū)銷售，在中國(guó)設(shè)立完善的銷售與服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，扎根本土市場(chǎng)需求。
吉時(shí)利在源測(cè)量領(lǐng)域積淀深厚，憑借在直流/交流測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，研發(fā)出涵蓋系統(tǒng)源表、數(shù)字源表、皮安表等多個(gè)品類的產(chǎn)品，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件測(cè)試、新能源材料研究、電子元器件生產(chǎn)、高端裝備檢測(cè)等環(huán)節(jié)。多次榮獲R&D 100 Award等行業(yè)大獎(jiǎng)，其測(cè)試儀器在全球工程師與科學(xué)家中樹立了可靠聲譽(yù)，踐行“精準(zhǔn)測(cè)量解決方案提供者”的定位。
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
雙通道同步/獨(dú)立測(cè)試：配備兩個(gè)完全隔離的源測(cè)量通道，支持雙通道同步輸出、獨(dú)立控制及數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)分析，可實(shí)現(xiàn)多引腳器件、雙器件同步測(cè)試，大幅提升測(cè)試效率，適配多通道器件特性評(píng)估需求。
高精度源與測(cè)量性能：?jiǎn)瓮ǖ离妷狠敵龇秶?00V、電流輸出±1A，功率達(dá)100W；測(cè)量精度達(dá)6位半分辨率，電壓測(cè)量分辨率0.1μV、電流測(cè)量分辨率100pA，可精準(zhǔn)捕捉微弱信號(hào)與器件細(xì)微特性變化，保障測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。
豐富測(cè)量功能集成：集成電壓、電流、電阻、功率四合一測(cè)量功能，支持IV曲線掃描、脈沖測(cè)試、閾值測(cè)量等多種測(cè)試模式，可一站式完成器件多參數(shù)特性分析，無需額外搭配測(cè)試設(shè)備。
強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)：內(nèi)置高速數(shù)據(jù)采集模塊，每通道支持1000點(diǎn)/秒數(shù)據(jù)采樣；配備大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)，支持測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)緩存與批量導(dǎo)出，具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、曲線分析功能，便于測(cè)試結(jié)果復(fù)盤。
穩(wěn)定運(yùn)行與可靠保護(hù)：采用抗干擾電路設(shè)計(jì)，保障復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)量穩(wěn)定性；具備過壓、過流、過溫、過載保護(hù)功能，可有效保護(hù)被測(cè)器件與儀器本身，降低測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)；工作溫度范圍覆蓋0~50℃，適配實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)線長(zhǎng)期運(yùn)行需求。
靈活擴(kuò)展與便捷集成：支持USB、GPIB、LAN多種接口，可輕松集成于自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)；兼容吉時(shí)利Test Script Builder測(cè)試軟件，支持自定義測(cè)試腳本編寫，適配個(gè)性化測(cè)試需求；支持多臺(tái)儀器級(jí)聯(lián)，擴(kuò)展測(cè)試通道數(shù)量。
三、產(chǎn)品規(guī)格
規(guī)格項(xiàng)目 | 詳細(xì)參數(shù) |
儀器類型 | 雙通道系統(tǒng)源表（SMU） |
測(cè)量通道 | 2個(gè)獨(dú)立源測(cè)量通道，完全隔離 |
電壓輸出范圍 | ±200V，分辨率0.1μV |
電流輸出范圍 | ±1A，分辨率100pA |
最大輸出功率 | 100W/通道 |
測(cè)量精度 | 6位半分辨率 |
電阻測(cè)量范圍 | 100mΩ~100GΩ |
數(shù)據(jù)采樣率 | 1000點(diǎn)/秒/通道（同步采樣） |
接口類型 | USB 2.0、GPIB（IEEE-488.2）、LAN（LXI-C） |
保護(hù)功能 | 過壓（OVP）、過流（OCP）、過溫（OTP）、過載保護(hù) |
工作溫度范圍 | 0℃~50℃ |
預(yù)熱時(shí)間 | 30分鐘（達(dá)到標(biāo)稱精度需滿足） |
外形尺寸（寬×高×深） | 426mm×132mm×470mm |
設(shè)備重量 | 11.8kg |
四、應(yīng)用場(chǎng)景
半導(dǎo)體器件測(cè)試：適配MOSFET、IGBT、二極管、三極管、傳感器等半導(dǎo)體器件測(cè)試，可完成IV特性、閾值電壓、漏電流、功耗等多參數(shù)測(cè)量，雙通道設(shè)計(jì)支持多器件同步測(cè)試，提升測(cè)試效率。
電子元器件生產(chǎn)測(cè)試：適用于電阻、電容、電感、連接器、繼電器等元器件的批量生產(chǎn)測(cè)試，可完成性能參數(shù)檢測(cè)、老化測(cè)試與分級(jí)篩選，保障生產(chǎn)質(zhì)量與產(chǎn)能。
新能源組件測(cè)試：適配鋰電池、光伏組件、儲(chǔ)能器件等新能源產(chǎn)品測(cè)試，可完成充放電特性、容量、內(nèi)阻、循環(huán)壽命等參數(shù)測(cè)量，滿足新能源領(lǐng)域測(cè)試需求。
研發(fā)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試：適配先進(jìn)材料研究、電子電路設(shè)計(jì)、芯片研發(fā)等科研場(chǎng)景，高精度測(cè)量性能可捕捉器件細(xì)微特性變化，支持自定義測(cè)試腳本，滿足科研過程中個(gè)性化測(cè)試需求，助力新技術(shù)研發(fā)。
質(zhì)量控制環(huán)節(jié)：適用于電子器件及系統(tǒng)產(chǎn)品的質(zhì)量控制檢測(cè)，可快速完成批量產(chǎn)品的多參數(shù)性能篩查，及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量問題，保障出廠產(chǎn)品一致性與可靠性。
自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成：支持USB、GPIB、LAN多種接口，可輕松集成于大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，適配電子制造、半導(dǎo)體封裝測(cè)試等領(lǐng)域自動(dòng)化、標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試需求，提升測(cè)試流程效率。
