Keysight MSOX4104A 混合信號示波器 - 1GHz 帶寬中高端高速測試儀器
Keysight MSOX4104A 混合信號示波器 - 1GHz 帶寬中高端高速測試儀器
中高端硬件配置：搭載 1GHz 帶寬與 5GSa/s 實時采樣率，可精準(zhǔn)捕獲高速數(shù)字信號（如高速串行總線信號、高頻時鐘信號），滿足高速電路測試需求；4 個模擬通道 + 16 個數(shù)字通道組合，支持模擬與數(shù)字信號同步采集分析，適配復(fù)雜混合信號系統(tǒng)測試場景；1Mpts 存儲深度能留存大量高速信號數(shù)據(jù)，便于后續(xù)細(xì)致分析信號時序與變化規(guī)律。
高信號保真與解析能力：具備 < 3% 垂直誤差的優(yōu)異信號保真度，減少信號失真，確保測試數(shù)據(jù)真實性；采用 8-bit 高分辨率 ADC，可精準(zhǔn)識別信號細(xì)微變化，提升弱信號檢測能力；硬件加速測量功能大幅縮短測量耗時，即使面對復(fù)雜高速信號，也能快速輸出準(zhǔn)確測量結(jié)果，提升測試效率。
精準(zhǔn)觸發(fā)與操作體驗：搭配 InfiniiScan 高級觸發(fā)系統(tǒng)，支持多種復(fù)雜觸發(fā)模式（如串行總線高級觸發(fā)、毛刺觸發(fā)、時序觸發(fā)等），可精準(zhǔn)捕獲瞬態(tài)、偶發(fā)的復(fù)雜異常波形，助力快速定位故障；10.1 英寸觸摸屏支持多點觸控，操作流暢直觀，界面可根據(jù)測試需求自定義布局，專業(yè)工程師能高效完成復(fù)雜測試設(shè)置。
廣泛兼容性與嚴(yán)苛場景適配：兼容 N7020A 等有源探頭，拓展測試量程與精度，滿足不同高速信號測試需求；支持 Jitter / 眼圖分析等高級測試功能，可對高速串行信號的時序抖動、信號完整性進(jìn)行精準(zhǔn)評估，適配高速數(shù)字電路調(diào)試、高端嵌入式系統(tǒng)開發(fā)等嚴(yán)苛測試場景。
規(guī)格類別 | 具體參數(shù) |
帶寬 | 1GHz（模擬通道） |
實時采樣率 | 5GSa/s（模擬通道） |
模擬輸入通道 | 4 通道 |
數(shù)字輸入通道 | 16 通道 |
存儲深度 | 高達(dá) 1Mpts |
信號保真度 | <3% 垂直誤差 |
ADC 分辨率 | 8-bit |
觸發(fā)系統(tǒng) | InfiniiScan 高級觸發(fā)系統(tǒng)，支持復(fù)雜觸發(fā)模式 |
顯示屏 | 10.1 英寸觸摸屏，支持多點觸控 |
特色功能 | 硬件加速測量功能，支持 Jitter / 眼圖分析 |
探頭兼容性 | 兼容 N7020A 等有源探頭 |
測量功能 | 支持高速信號參數(shù)測量、時序分析、串行總線分析等高級測量 |
存儲類型 | 數(shù)字存儲，支持大容量波形數(shù)據(jù)存儲與導(dǎo)出 |
適用場景 | 高速數(shù)字電路調(diào)試、電源完整性分析、嵌入式系統(tǒng)開發(fā)、Jitter / 眼圖分析 |
高速數(shù)字電路調(diào)試：適用于高端芯片、高速串行總線（如 PCIe、USB3.0）相關(guān)電路的調(diào)試，1GHz 帶寬與 5GSa/s 采樣率可精準(zhǔn)捕獲高速信號，<3% 垂直誤差保障信號真實性，結(jié)合 Jitter / 眼圖分析功能，評估信號時序與完整性，快速定位電路設(shè)計缺陷，保障高速電路穩(wěn)定運(yùn)行。
電源完整性分析：可用于高端電源模塊（如服務(wù)器電源、新能源汽車電源）的性能測試，通過高分辨率 ADC 捕獲電源輸出電壓的細(xì)微紋波與噪聲，硬件加速測量功能快速分析電源穩(wěn)定性，為電源設(shè)計優(yōu)化提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支持，提升電源可靠性。
嵌入式系統(tǒng)開發(fā)：針對高端嵌入式系統(tǒng)（如工業(yè)控制高端主板、航空航天電子設(shè)備）的開發(fā)測試，4+16 通道同步采集模擬傳感器信號與數(shù)字控制信號，InfiniiScan 觸發(fā)精準(zhǔn)捕獲系統(tǒng)運(yùn)行中的偶發(fā)故障信號，助力開發(fā)人員優(yōu)化系統(tǒng)性能與穩(wěn)定性。
高端電子研發(fā)測試：適配消費(fèi)電子高端產(chǎn)品（如高端智能手機(jī)芯片、AR/VR 設(shè)備）、工業(yè)高端設(shè)備的研發(fā)測試，兼容有源探頭拓展測試能力，支持復(fù)雜信號分析，全面驗證研發(fā)方案可行性，及時發(fā)現(xiàn)設(shè)計問題，縮短高端產(chǎn)品研發(fā)周期。
