MP2100B 10GbE×4ch，小體積，大作為。多合一4通道BERT(最大12.5 Gbit/s)和采樣示波器。BERTWave MP2100B，多通道光學(xué)模塊測試解決方案。

隨著云計算的普及，數(shù)據(jù)中心對于光模塊的需求與日俱增。其中，對于SFP+模塊(用于10GbE)和QSFP+模塊(40GbE(10Gbit/s×4)的需求更是在快速增長。多合一BERTWave MP2100B內(nèi)置BERT測試儀和采樣示波器，可同時運行開發(fā)和制造模塊所需的BER測試和眼圖分析。BERT通道的數(shù)量可擴展為四個，且支持4通道同步BER測量。此外，高采樣速度減少了眼圖的測量時間。使用MP2100B可更高效地測量QSFP+等多通道光學(xué)模塊。

BERTWave MP2100B的功能，多合一4通道BER測量和眼圖分析

增加通道數(shù)量可極大地縮短QFSP+模塊的測量時間。如果通道數(shù)量沒有增加，測量時間就會相對較長。

搭載了集成式BERT的一體化采樣示波器可以簡化測量系統(tǒng)配置和控制，從而支持同步BER測量和EYE模式分析，與結(jié)合單獨儀器相比可縮短約40%的測量時間。

此外，BERTS可擴展至4英寸，從而支持所有QSFP+模塊通道的同步錯誤測量，由于耗時的通道切換操作已被取消，所以這能夠進一步減少70%的測量時間。

40 Gbit)s(10 Gbit/s×4通道)QSFP+BER測量時間對比。

MP2100B 的功能

高速BER測試

MP2100 B使用BERT通道排名功能來支持高達4通道的批量設(shè)置和測量，還內(nèi)置了可批量捕獲測量結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)功能，極大地縮短了40 GbE(10 Gbit/s×4)QSFP+ BER的測量時間。此外，它能夠在約10ms的時間里捕獲BER測量結(jié)果，這也減少了測量時間。

快速采樣模式/高速眼圖分析

MP2100B內(nèi)置一項新的標(biāo)準(zhǔn)功能一快速采樣模式。除了提供與舊款產(chǎn)品相同的高速100k樣本/秒的采樣速度以外，新的快速采樣模式將采樣速度提高到150k樣本/秒，是傳統(tǒng)眼圖分析速度的1.5倍。

寬帶工作頻率

標(biāo)準(zhǔn)情況下，內(nèi)置的PPG和ED在8.5Gbit/s到11.32 Gbit/s的范圍內(nèi)以1/N比特率的速度運行。安裝選件092后，可在一個裝置內(nèi)支持STM1、10GFC等許多應(yīng)用使用的125 Mbit/s到12.5Gbit/s的所有比特率。

時鐘恢復(fù)功能

ED時鐘恢復(fù)功能(標(biāo)準(zhǔn)功能)通過輸入數(shù)據(jù)信號，無需外部時鐘即可實現(xiàn)BER分析。

眼圖/脈沖采樣時鐘恢復(fù)功能(選件053、054、055)

頻率范圍：8.5GHz到12.5GHz,0.1GHz到2.7GHz可使用該功能評估長途傳輸設(shè)備或無時鐘輸出的裝置的光學(xué)特性。

時間和振幅測試

支持的測量包括：0電平、1電平、SNR、眼圖閉合率、眼圖振幅、眼圖高度、眼圖寬度、抖動p-p、抖動RMS、消光比、上升時間、下降時間、占空比失真、平均功率、OMA等。

眼圖模板/模板余量測試

測試很簡單，因為模板余量測試是自動執(zhí)行的。此外，模板余量測試僅需約1秒鐘，使得可在更短的時間里高速執(zhí)行合規(guī)性測量，從而極大地提高了生產(chǎn)線的生產(chǎn)率。

• 1秒內(nèi)自動測量

• 實時余量測量

• 模板可選計數(shù)與速率

直方圖

利用組數(shù)據(jù)分布的平均值、標(biāo)準(zhǔn)誤差和散布情況進行波形數(shù)據(jù)成分分析，使排除故障更輕松。

參考跟蹤功能

可將測得的波形數(shù)據(jù)保存下來供參考，從而能夠?qū)?dāng)前的數(shù)據(jù)與之前的數(shù)據(jù)進行對比。