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從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化
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從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

2020-02-25
瀏覽次數(shù):2153次

前言

科技改變生活,信息化是當(dāng)今世界發(fā)展的大趨勢(shì)。物聯(lián)網(wǎng),云計(jì)算,大數(shù)據(jù)等新興的網(wǎng)絡(luò)信息技術(shù)持續(xù)創(chuàng)新和應(yīng)用,而在移動(dòng)互聯(lián)技術(shù)上,3G網(wǎng)絡(luò)日趨成熟,4GLTE網(wǎng)絡(luò)從去年開始已經(jīng)在全國試點(diǎn)運(yùn)行,移動(dòng)互聯(lián)速度又將邁上了一個(gè)新臺(tái)階。在這個(gè)信息產(chǎn)業(yè)化的時(shí)代,我們工作生活的城市也在向智慧城市轉(zhuǎn)型,各種網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用與我們密切相關(guān)。無論是新興技術(shù)的應(yīng)用還是智慧城市的建設(shè),應(yīng)用都離不開基礎(chǔ)網(wǎng)絡(luò)?;A(chǔ)網(wǎng)絡(luò)的建設(shè)以場地,有源的終端和互聯(lián)設(shè)備,以及構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)互連通道--布線系統(tǒng)為主。布線系統(tǒng)需要在現(xiàn)場進(jìn)行施工安裝,易受環(huán)境,產(chǎn)品質(zhì)量,安裝工藝等因素影響,是決定網(wǎng)絡(luò)傳輸質(zhì)量的最重要環(huán)節(jié)。布線系統(tǒng)的可靠性不僅取決于工程中的質(zhì)量監(jiān)督,更要嚴(yán)把最后一關(guān),現(xiàn)場驗(yàn)收測試。

測試技術(shù)發(fā)展的迫切性

目前,大部分中小型布線項(xiàng)目還是采用以萬兆為主干,實(shí)現(xiàn)千兆到桌面的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)。但是,隨著3G/4G和互聯(lián)網(wǎng)業(yè)務(wù)的快速發(fā)展,帶寬已經(jīng)不能夠滿足應(yīng)用的需求,主干鏈路采用40G/100G成為大型布線項(xiàng)目,特別是企業(yè)數(shù)據(jù)中心和互聯(lián)網(wǎng)IDC數(shù)據(jù)中心項(xiàng)目建設(shè)的必然趨勢(shì)。根據(jù)IDC市場報(bào)告,預(yù)計(jì)2015年以后,40G/100G將逐步成為主流的端口速率。

自從2010年6月IEEE發(fā)布了802.3ba的40G/100G標(biāo)準(zhǔn)以來,40G/100G的網(wǎng)絡(luò)主要以實(shí)驗(yàn)網(wǎng)為主,對(duì)現(xiàn)場測試要求較低。經(jīng)過2年多的系統(tǒng)研發(fā)測試,目前40G/100G的傳輸技術(shù)日趨成熟,各大廠商紛紛推出40G/100G的交換路由設(shè)備,電信級(jí)長距離主干鏈路采用單模光纖系統(tǒng),而樓宇和數(shù)據(jù)中心的綜合布線系統(tǒng)主要以短距離的傳輸?shù)亩嗄M3/OM4光纖系統(tǒng)為主,采用12芯MPO的連接器,四通道/十通道的預(yù)連接光纜。預(yù)連接光纜大大減少安裝時(shí)間和人工成本,但是如何快速地識(shí)別光纖極性,快速并準(zhǔn)確的測試鏈路的衰減成了現(xiàn)場測試的首要問題。

傳統(tǒng)光纖測試技術(shù)

首先,我們先來回顧一下原有千兆,萬兆光纖鏈路的測試技術(shù)。2003年,TIA-526-14-A多模光纜安裝光強(qiáng)度損失測試標(biāo)準(zhǔn)正式定義了CPR(CoupledPowerRatio)光耦合率的檢測方法,將光源分成5個(gè)等級(jí)(如下圖),LED光源是等級(jí)1的光源,VCSEL垂直腔面發(fā)射激光光源的等級(jí)介于等級(jí)3和等級(jí)4之間,F(xiàn)P激光光源相當(dāng)于等級(jí)5的光源。同時(shí),進(jìn)一步提高了光損耗的測試極限值,1000BASE-SX應(yīng)用于OM1光纖的最大損耗值為2.6dB;10GBASE-SR應(yīng)用于OM3光纖的最大損耗值為2.6dB。該標(biāo)準(zhǔn)作為光纖鏈路測試的通用標(biāo)準(zhǔn),不針對(duì)特定的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用,強(qiáng)調(diào)檢測光信號(hào)傳輸時(shí)的正常狀態(tài),建議使用LED光源測試多模光纖鏈路,這種方式可以檢測光纖鏈路的最差情況。而激光優(yōu)化過的VCSEL光源則用于檢測特定網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的鏈路,如有源設(shè)備使用VCSEL光源或當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)準(zhǔn)備升級(jí)使用VCSEL光源,此時(shí)測試得到的光纖損耗值比較接近網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用時(shí)的真實(shí)損耗值。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

TIA-526-14-A標(biāo)準(zhǔn)被多個(gè)相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)引用,如ANSI/TIA/EIA-568-B,ISO/IEC11801,ISO/IEC14763-3等標(biāo)準(zhǔn)。并且ANSI/TIA/EIA568-B.1.7.1和ISO/IEC14763-36.22還規(guī)定了使用50/62.5um多模光纖卷軸的尺寸和使用方法。卷軸通過盤繞光纖的方式充作模式過濾器,減少光源在光纜中產(chǎn)生的高次模,同時(shí)降低了使用不同光源造成的測試結(jié)果差異性,提高了多模光纖測試的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

10GMPO多芯光纖測試模型

相比較傳統(tǒng)使用LC,SC,ST等連接器的雙芯光纖,使用MPO連接器可以支持至少12芯光纖,MPO連接器主要使用于預(yù)連接光纜。因?yàn)镸PO光纖存在12芯通道,TIA-568-C.0-2009B.4詳細(xì)分析了通道極性,針對(duì)雙工傳輸,主要有A,B,C三種種極性的連接方式。三種方式都是為了一個(gè)共同的目標(biāo)----創(chuàng)建一個(gè)端到端的光收發(fā)通道,但是三種方式不能兼容,分別使用不同極性的的連接器和適配器。為了整條鏈路的兼容性和一致性,盡量考慮使用相同極性的連接器和適配器,比如使用的跳線極性都是A-B,適配器的類型都是KEYUP-KEYUP,否則極性不同會(huì)造成使用混亂,容易安裝出錯(cuò),造成鏈路故障。因此,10G光纖通道里,MPO主干鏈路的極性主要采用的C類方式(見下圖),兩端端口按對(duì)應(yīng)數(shù)字編號(hào)內(nèi)部互通,光通道采用兩兩一組,交叉連接,如1---2,2---1,形成全雙工的收發(fā)通道。左右兩端通過MPO轉(zhuǎn)LC的模塊盒轉(zhuǎn)成LC接口,然后通過LC跳線連接設(shè)備,此種情況主要應(yīng)用在數(shù)據(jù)中心高密度布線系統(tǒng)。

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被測鏈路:

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兩端為MPO-LCA模塊(MPO1-12口一一對(duì)應(yīng)LC1-12口)的主干鏈路示意圖

1)設(shè)置基準(zhǔn):用1根LC-LC測試跳線連接測試儀的光源輸出口(LC)和功率計(jì)輸入口(LC)。

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2)拔出光功率計(jì)輸入口跳線,接入另一根測試跳線。

3)接入被測光纖(兩端為MTP-LC模塊盒,中間是MTP-MTP預(yù)連接光纜),將LC測試跳線分別接入兩端A模塊,一端為1口,另一端接2口。

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4)記錄保存當(dāng)前被測光纖通道的損耗值,然后將光源端LC跳線更換到A模塊的2口,光功率計(jì)端LC跳線更換到另一側(cè)A模塊的1口,記錄并保存,直到完成12個(gè)通道的損耗測試。

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40G/100GMPO多芯光纖測試技術(shù)

2010年,802.3ba頒布的40G/100G的鏈路標(biāo)準(zhǔn)分別為40GBASE-SR4和100GBASE-SR10;使用MPO的連接器和適配器;OM3光纖的最大傳輸距離為100米,最大損耗值為1.9dB;OM4光纖的最大傳輸距離為150米,最大損耗值為1.5dB。40G/100G鏈路主要用于數(shù)據(jù)中心大流量數(shù)據(jù)傳輸,據(jù)第三方統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)中心88%的主干鏈路長度不超過100米。因此,基于OM3/OM4的MPO預(yù)連接光纜將成為40G/100G鏈路的首選。之前針對(duì)10G光纖鏈路測試定義的閥值,如LC連接器的閥值為0.75dB,允許存在多個(gè)連接器(大于兩個(gè)),熔接點(diǎn)的閥值為0.3dB已經(jīng)不再適用。新的40G/100G光纖主干鏈路將使用預(yù)連接光纜,鏈路中無熔接點(diǎn)和連接器,只需考慮兩端MPO連接器的損耗和光纜本身的損耗,盡可能的減少連接器的損耗,確保整條鏈路的衰減值在新標(biāo)準(zhǔn)的要求之內(nèi)。

影響40G/100G傳輸?shù)膬蓚€(gè)關(guān)鍵因素就是光源和光纖鏈路損耗。更加嚴(yán)格的損耗要求對(duì)傳統(tǒng)的LED光源測試方法提出了挑戰(zhàn),原有LED光源的輸出功率低,發(fā)散角大,連接器損耗大,采用過滿注入(OFL—OverFilledLaunch)的方式。而使用VCSEL光源的有限注入法(UFL—UnderFilledLaunch),近場強(qiáng)度的光通道集中在中心范圍內(nèi),在光纖中心的傳輸模式較少,發(fā)散角較小,有效地解決了LED光源的弊端。但是原有IEEE802.3,ANSI/TIA和ISO/IEC等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)只是針對(duì)LED光源進(jìn)行了定義,同時(shí)考慮到價(jià)格因素,并且不同廠家VCSEL的光功率分布差異較大,因此針對(duì)40G/100G的測試的新標(biāo)準(zhǔn)沒有采用VCSEL光源進(jìn)行定義。同樣,2006年頒發(fā)的ISO/IEC14763-3定義了MPD(ModalPowerDistribution)模態(tài)功率分布的方法,雖然通過波導(dǎo)陣列改善了耦合強(qiáng)度,但是同樣不能滿足40G/100G傳輸?shù)男枰?/p>

2010年10月,ANSI/TIA-526-14-B代替了ANSI/TIA-526-14-A,定義了EF(EncircledFlux)光源環(huán)形通量的測試方法,該方法同時(shí)定義在IEC61280-4-1標(biāo)準(zhǔn)中。EF通過模式調(diào)節(jié)器限制多模光源的發(fā)射條件,過濾高次模的光信號(hào),使用代用EF控制器的跳線代替原有使用多模卷軸的普通測試跳線(如下圖)。當(dāng)被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器相同時(shí),可以使用1或3條測試跳線;當(dāng)被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器不同時(shí),使用3條測試跳線;測試跳線至少2米,不超過10米。環(huán)型通量可將損耗測量偏差從原有±40%降低至±10%,從而降低測量不確定性并提高每次測量的可重復(fù)性。

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40G/100GMPO光纖測試模型

一條標(biāo)準(zhǔn)的MPO/MTP鏈路是由兩端兩根MPO跳線,兩個(gè)MPO適配器和MPO的預(yù)連接主干光纜組成。在TIA-568-C.0-2009B.4里,針對(duì)并行多通道傳輸,給出了A和B兩種方式(見下圖,Table5)。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

為了保障鏈路的兼容性和單一性,施工和維護(hù)比較方便,特別是經(jīng)常插拔和更換的MPO跳線,在40G/100G布線系統(tǒng)中,方式B將會(huì)更多的被采納。40G和100G的通道數(shù)量不同,但是其傳輸鏈路模型是相同的,都是使用MPO/MTP接口進(jìn)行端到端的傳輸。因此,我們以40G單通道傳輸為例,測試時(shí)需注意預(yù)連接光纜和跳線的端口端口類型----有引導(dǎo)針(公頭)和無引導(dǎo)針(母頭)。

被測MPO鏈路(母-母):

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傳統(tǒng)MPO多芯光纖測試模型----采用LC接口的光源和光功率計(jì)

1)設(shè)置基準(zhǔn):使用3段光纖跳線和2個(gè)LC適配器進(jìn)行基準(zhǔn)設(shè)置,光源輸出口端使用多模卷軸,如下圖所示。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

2)將中間兩個(gè)LC適配器間的LC短跳線去掉,分別添加2根LC-MPO(公)的多芯短跳線,連接第1對(duì)LC,用于測試MPO第1,2口,如下圖所示。

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3)將被測MPO光纖鏈路接入,進(jìn)行測試,得出MPO第1,2口衰減值并保存。

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4)斷開兩端LC適配器和多芯LC-MPO(公)跳線,按照B類極性進(jìn)行余下5對(duì)鏈路的衰減測試。

由此可以看出,使用LC接口的光源和光功率進(jìn)行40G/100G的鏈路測試,需要MPO轉(zhuǎn)到LC的扇形跳線,光源輸出口端接的跳線必須帶有多模卷軸,并且每測試一個(gè)通道都需要進(jìn)行基準(zhǔn)設(shè)置。因此,此方法操作比較復(fù)雜,每根MPO鏈路需測試12次,在大規(guī)模測試時(shí),耗費(fèi)較多時(shí)間。

最新MPO多芯光纖測試模型----采用MPO接口的光源和光功率計(jì)

目前市場上已經(jīng)有MPO接口的光纖現(xiàn)場測試設(shè)備,帶有EF控制光源,可以較好的滿足MPO光纖鏈路的現(xiàn)場測試。采用MPO接口適配器和MPO的基準(zhǔn)跳線,設(shè)置相應(yīng)的鏈路衰減門閥值,可以一次性進(jìn)行12條鏈路的基準(zhǔn)設(shè)置和衰減測試,自動(dòng)檢測MPO光纖的極性并出具報(bào)告。需要注意被測MPO鏈路連接器有無引導(dǎo)針(公/母),即兩端都無引導(dǎo)針(母-母),兩端都有引導(dǎo)針(公-公),一端有引導(dǎo)針另一端無引導(dǎo)針(公-母)三種情況,選擇合適的基準(zhǔn)跳線進(jìn)行基準(zhǔn)設(shè)置。下面以最常見的兩端都無引導(dǎo)針,即兩端都是母頭的MPO光纖鏈路模型進(jìn)行測試。

被測MPO鏈路(母-母):

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1)設(shè)置基準(zhǔn):使用1根MPO(公-公)測試跳線連接光源和光功率計(jì),進(jìn)行基準(zhǔn)測試。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

2)斷開光功率計(jì)端跳線,再接入一根MPO(公-公)測試跳線。

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3)將被測B類光纖鏈路接入,進(jìn)行測試得到光纖極性和12根通道的損耗,保存測試結(jié)果。

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4)重復(fù)步驟2)至3),進(jìn)行下一根MPO(母-母)光纖鏈路的測試。

結(jié)束語

原有10GMPO測試的模型不再適合今后40G/100G的測試需要,LC接口的光源和光功率計(jì)導(dǎo)致MPO光纖鏈路測試次數(shù)和時(shí)間大大增加,一根12芯的MPO主干鏈路完整測試需要將近十分鐘,并且測試穩(wěn)定性較差。因此,需要使用帶有MPO接口的測試儀器進(jìn)行測試。同時(shí),EF環(huán)形通量控制代替了多模卷軸,增加了光纖鏈路測試的穩(wěn)定性和可靠性。100G傳輸采用十通道收和十通道發(fā)的模式較為復(fù)雜,IEEEP802.3bm40G/100G工作小組將會(huì)對(duì)100G的傳輸模式進(jìn)行改進(jìn),原有的十通道的收發(fā)模式將會(huì)被四通道代替。作為40G/100G的下一代,高達(dá)400G的以太網(wǎng)傳輸標(biāo)準(zhǔn)即將在明年啟動(dòng),預(yù)計(jì)使用OM4光纖。MPO接口的光纖鏈路在今后的部署將會(huì)越來越廣,不再局限于電信運(yùn)營商和數(shù)據(jù)中心等高端用戶,了解MPO光纖鏈路的傳輸模型和測試技術(shù)將有助于我們更好的駕馭未來的40G/100G高速通信傳輸通道。

參考文獻(xiàn):

[1]TheneedforEncircledFlux,realorimaginaryAdrianYoung


從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化
2020-02-25

前言

科技改變生活,信息化是當(dāng)今世界發(fā)展的大趨勢(shì)。物聯(lián)網(wǎng),云計(jì)算,大數(shù)據(jù)等新興的網(wǎng)絡(luò)信息技術(shù)持續(xù)創(chuàng)新和應(yīng)用,而在移動(dòng)互聯(lián)技術(shù)上,3G網(wǎng)絡(luò)日趨成熟,4GLTE網(wǎng)絡(luò)從去年開始已經(jīng)在全國試點(diǎn)運(yùn)行,移動(dòng)互聯(lián)速度又將邁上了一個(gè)新臺(tái)階。在這個(gè)信息產(chǎn)業(yè)化的時(shí)代,我們工作生活的城市也在向智慧城市轉(zhuǎn)型,各種網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用與我們密切相關(guān)。無論是新興技術(shù)的應(yīng)用還是智慧城市的建設(shè),應(yīng)用都離不開基礎(chǔ)網(wǎng)絡(luò)。基礎(chǔ)網(wǎng)絡(luò)的建設(shè)以場地,有源的終端和互聯(lián)設(shè)備,以及構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)互連通道--布線系統(tǒng)為主。布線系統(tǒng)需要在現(xiàn)場進(jìn)行施工安裝,易受環(huán)境,產(chǎn)品質(zhì)量,安裝工藝等因素影響,是決定網(wǎng)絡(luò)傳輸質(zhì)量的最重要環(huán)節(jié)。布線系統(tǒng)的可靠性不僅取決于工程中的質(zhì)量監(jiān)督,更要嚴(yán)把最后一關(guān),現(xiàn)場驗(yàn)收測試。

測試技術(shù)發(fā)展的迫切性

目前,大部分中小型布線項(xiàng)目還是采用以萬兆為主干,實(shí)現(xiàn)千兆到桌面的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)。但是,隨著3G/4G和互聯(lián)網(wǎng)業(yè)務(wù)的快速發(fā)展,帶寬已經(jīng)不能夠滿足應(yīng)用的需求,主干鏈路采用40G/100G成為大型布線項(xiàng)目,特別是企業(yè)數(shù)據(jù)中心和互聯(lián)網(wǎng)IDC數(shù)據(jù)中心項(xiàng)目建設(shè)的必然趨勢(shì)。根據(jù)IDC市場報(bào)告,預(yù)計(jì)2015年以后,40G/100G將逐步成為主流的端口速率。

自從2010年6月IEEE發(fā)布了802.3ba的40G/100G標(biāo)準(zhǔn)以來,40G/100G的網(wǎng)絡(luò)主要以實(shí)驗(yàn)網(wǎng)為主,對(duì)現(xiàn)場測試要求較低。經(jīng)過2年多的系統(tǒng)研發(fā)測試,目前40G/100G的傳輸技術(shù)日趨成熟,各大廠商紛紛推出40G/100G的交換路由設(shè)備,電信級(jí)長距離主干鏈路采用單模光纖系統(tǒng),而樓宇和數(shù)據(jù)中心的綜合布線系統(tǒng)主要以短距離的傳輸?shù)亩嗄M3/OM4光纖系統(tǒng)為主,采用12芯MPO的連接器,四通道/十通道的預(yù)連接光纜。預(yù)連接光纜大大減少安裝時(shí)間和人工成本,但是如何快速地識(shí)別光纖極性,快速并準(zhǔn)確的測試鏈路的衰減成了現(xiàn)場測試的首要問題。

傳統(tǒng)光纖測試技術(shù)

首先,我們先來回顧一下原有千兆,萬兆光纖鏈路的測試技術(shù)。2003年,TIA-526-14-A多模光纜安裝光強(qiáng)度損失測試標(biāo)準(zhǔn)正式定義了CPR(CoupledPowerRatio)光耦合率的檢測方法,將光源分成5個(gè)等級(jí)(如下圖),LED光源是等級(jí)1的光源,VCSEL垂直腔面發(fā)射激光光源的等級(jí)介于等級(jí)3和等級(jí)4之間,F(xiàn)P激光光源相當(dāng)于等級(jí)5的光源。同時(shí),進(jìn)一步提高了光損耗的測試極限值,1000BASE-SX應(yīng)用于OM1光纖的最大損耗值為2.6dB;10GBASE-SR應(yīng)用于OM3光纖的最大損耗值為2.6dB。該標(biāo)準(zhǔn)作為光纖鏈路測試的通用標(biāo)準(zhǔn),不針對(duì)特定的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用,強(qiáng)調(diào)檢測光信號(hào)傳輸時(shí)的正常狀態(tài),建議使用LED光源測試多模光纖鏈路,這種方式可以檢測光纖鏈路的最差情況。而激光優(yōu)化過的VCSEL光源則用于檢測特定網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的鏈路,如有源設(shè)備使用VCSEL光源或當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)準(zhǔn)備升級(jí)使用VCSEL光源,此時(shí)測試得到的光纖損耗值比較接近網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用時(shí)的真實(shí)損耗值。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

TIA-526-14-A標(biāo)準(zhǔn)被多個(gè)相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)引用,如ANSI/TIA/EIA-568-B,ISO/IEC11801,ISO/IEC14763-3等標(biāo)準(zhǔn)。并且ANSI/TIA/EIA568-B.1.7.1和ISO/IEC14763-36.22還規(guī)定了使用50/62.5um多模光纖卷軸的尺寸和使用方法。卷軸通過盤繞光纖的方式充作模式過濾器,減少光源在光纜中產(chǎn)生的高次模,同時(shí)降低了使用不同光源造成的測試結(jié)果差異性,提高了多模光纖測試的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

10GMPO多芯光纖測試模型

相比較傳統(tǒng)使用LC,SC,ST等連接器的雙芯光纖,使用MPO連接器可以支持至少12芯光纖,MPO連接器主要使用于預(yù)連接光纜。因?yàn)镸PO光纖存在12芯通道,TIA-568-C.0-2009B.4詳細(xì)分析了通道極性,針對(duì)雙工傳輸,主要有A,B,C三種種極性的連接方式。三種方式都是為了一個(gè)共同的目標(biāo)----創(chuàng)建一個(gè)端到端的光收發(fā)通道,但是三種方式不能兼容,分別使用不同極性的的連接器和適配器。為了整條鏈路的兼容性和一致性,盡量考慮使用相同極性的連接器和適配器,比如使用的跳線極性都是A-B,適配器的類型都是KEYUP-KEYUP,否則極性不同會(huì)造成使用混亂,容易安裝出錯(cuò),造成鏈路故障。因此,10G光纖通道里,MPO主干鏈路的極性主要采用的C類方式(見下圖),兩端端口按對(duì)應(yīng)數(shù)字編號(hào)內(nèi)部互通,光通道采用兩兩一組,交叉連接,如1---2,2---1,形成全雙工的收發(fā)通道。左右兩端通過MPO轉(zhuǎn)LC的模塊盒轉(zhuǎn)成LC接口,然后通過LC跳線連接設(shè)備,此種情況主要應(yīng)用在數(shù)據(jù)中心高密度布線系統(tǒng)。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

被測鏈路:

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

兩端為MPO-LCA模塊(MPO1-12口一一對(duì)應(yīng)LC1-12口)的主干鏈路示意圖

1)設(shè)置基準(zhǔn):用1根LC-LC測試跳線連接測試儀的光源輸出口(LC)和功率計(jì)輸入口(LC)。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

2)拔出光功率計(jì)輸入口跳線,接入另一根測試跳線。

3)接入被測光纖(兩端為MTP-LC模塊盒,中間是MTP-MTP預(yù)連接光纜),將LC測試跳線分別接入兩端A模塊,一端為1口,另一端接2口。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

4)記錄保存當(dāng)前被測光纖通道的損耗值,然后將光源端LC跳線更換到A模塊的2口,光功率計(jì)端LC跳線更換到另一側(cè)A模塊的1口,記錄并保存,直到完成12個(gè)通道的損耗測試。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

40G/100GMPO多芯光纖測試技術(shù)

2010年,802.3ba頒布的40G/100G的鏈路標(biāo)準(zhǔn)分別為40GBASE-SR4和100GBASE-SR10;使用MPO的連接器和適配器;OM3光纖的最大傳輸距離為100米,最大損耗值為1.9dB;OM4光纖的最大傳輸距離為150米,最大損耗值為1.5dB。40G/100G鏈路主要用于數(shù)據(jù)中心大流量數(shù)據(jù)傳輸,據(jù)第三方統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)中心88%的主干鏈路長度不超過100米。因此,基于OM3/OM4的MPO預(yù)連接光纜將成為40G/100G鏈路的首選。之前針對(duì)10G光纖鏈路測試定義的閥值,如LC連接器的閥值為0.75dB,允許存在多個(gè)連接器(大于兩個(gè)),熔接點(diǎn)的閥值為0.3dB已經(jīng)不再適用。新的40G/100G光纖主干鏈路將使用預(yù)連接光纜,鏈路中無熔接點(diǎn)和連接器,只需考慮兩端MPO連接器的損耗和光纜本身的損耗,盡可能的減少連接器的損耗,確保整條鏈路的衰減值在新標(biāo)準(zhǔn)的要求之內(nèi)。

影響40G/100G傳輸?shù)膬蓚€(gè)關(guān)鍵因素就是光源和光纖鏈路損耗。更加嚴(yán)格的損耗要求對(duì)傳統(tǒng)的LED光源測試方法提出了挑戰(zhàn),原有LED光源的輸出功率低,發(fā)散角大,連接器損耗大,采用過滿注入(OFL—OverFilledLaunch)的方式。而使用VCSEL光源的有限注入法(UFL—UnderFilledLaunch),近場強(qiáng)度的光通道集中在中心范圍內(nèi),在光纖中心的傳輸模式較少,發(fā)散角較小,有效地解決了LED光源的弊端。但是原有IEEE802.3,ANSI/TIA和ISO/IEC等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)只是針對(duì)LED光源進(jìn)行了定義,同時(shí)考慮到價(jià)格因素,并且不同廠家VCSEL的光功率分布差異較大,因此針對(duì)40G/100G的測試的新標(biāo)準(zhǔn)沒有采用VCSEL光源進(jìn)行定義。同樣,2006年頒發(fā)的ISO/IEC14763-3定義了MPD(ModalPowerDistribution)模態(tài)功率分布的方法,雖然通過波導(dǎo)陣列改善了耦合強(qiáng)度,但是同樣不能滿足40G/100G傳輸?shù)男枰?/p>

2010年10月,ANSI/TIA-526-14-B代替了ANSI/TIA-526-14-A,定義了EF(EncircledFlux)光源環(huán)形通量的測試方法,該方法同時(shí)定義在IEC61280-4-1標(biāo)準(zhǔn)中。EF通過模式調(diào)節(jié)器限制多模光源的發(fā)射條件,過濾高次模的光信號(hào),使用代用EF控制器的跳線代替原有使用多模卷軸的普通測試跳線(如下圖)。當(dāng)被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器相同時(shí),可以使用1或3條測試跳線;當(dāng)被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器不同時(shí),使用3條測試跳線;測試跳線至少2米,不超過10米。環(huán)型通量可將損耗測量偏差從原有±40%降低至±10%,從而降低測量不確定性并提高每次測量的可重復(fù)性。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

40G/100GMPO光纖測試模型

一條標(biāo)準(zhǔn)的MPO/MTP鏈路是由兩端兩根MPO跳線,兩個(gè)MPO適配器和MPO的預(yù)連接主干光纜組成。在TIA-568-C.0-2009B.4里,針對(duì)并行多通道傳輸,給出了A和B兩種方式(見下圖,Table5)。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

為了保障鏈路的兼容性和單一性,施工和維護(hù)比較方便,特別是經(jīng)常插拔和更換的MPO跳線,在40G/100G布線系統(tǒng)中,方式B將會(huì)更多的被采納。40G和100G的通道數(shù)量不同,但是其傳輸鏈路模型是相同的,都是使用MPO/MTP接口進(jìn)行端到端的傳輸。因此,我們以40G單通道傳輸為例,測試時(shí)需注意預(yù)連接光纜和跳線的端口端口類型----有引導(dǎo)針(公頭)和無引導(dǎo)針(母頭)。

被測MPO鏈路(母-母):

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

傳統(tǒng)MPO多芯光纖測試模型----采用LC接口的光源和光功率計(jì)

1)設(shè)置基準(zhǔn):使用3段光纖跳線和2個(gè)LC適配器進(jìn)行基準(zhǔn)設(shè)置,光源輸出口端使用多模卷軸,如下圖所示。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

2)將中間兩個(gè)LC適配器間的LC短跳線去掉,分別添加2根LC-MPO(公)的多芯短跳線,連接第1對(duì)LC,用于測試MPO第1,2口,如下圖所示。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

3)將被測MPO光纖鏈路接入,進(jìn)行測試,得出MPO第1,2口衰減值并保存。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

4)斷開兩端LC適配器和多芯LC-MPO(公)跳線,按照B類極性進(jìn)行余下5對(duì)鏈路的衰減測試。

由此可以看出,使用LC接口的光源和光功率進(jìn)行40G/100G的鏈路測試,需要MPO轉(zhuǎn)到LC的扇形跳線,光源輸出口端接的跳線必須帶有多模卷軸,并且每測試一個(gè)通道都需要進(jìn)行基準(zhǔn)設(shè)置。因此,此方法操作比較復(fù)雜,每根MPO鏈路需測試12次,在大規(guī)模測試時(shí),耗費(fèi)較多時(shí)間。

最新MPO多芯光纖測試模型----采用MPO接口的光源和光功率計(jì)

目前市場上已經(jīng)有MPO接口的光纖現(xiàn)場測試設(shè)備,帶有EF控制光源,可以較好的滿足MPO光纖鏈路的現(xiàn)場測試。采用MPO接口適配器和MPO的基準(zhǔn)跳線,設(shè)置相應(yīng)的鏈路衰減門閥值,可以一次性進(jìn)行12條鏈路的基準(zhǔn)設(shè)置和衰減測試,自動(dòng)檢測MPO光纖的極性并出具報(bào)告。需要注意被測MPO鏈路連接器有無引導(dǎo)針(公/母),即兩端都無引導(dǎo)針(母-母),兩端都有引導(dǎo)針(公-公),一端有引導(dǎo)針另一端無引導(dǎo)針(公-母)三種情況,選擇合適的基準(zhǔn)跳線進(jìn)行基準(zhǔn)設(shè)置。下面以最常見的兩端都無引導(dǎo)針,即兩端都是母頭的MPO光纖鏈路模型進(jìn)行測試。

被測MPO鏈路(母-母):

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

1)設(shè)置基準(zhǔn):使用1根MPO(公-公)測試跳線連接光源和光功率計(jì),進(jìn)行基準(zhǔn)測試。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

2)斷開光功率計(jì)端跳線,再接入一根MPO(公-公)測試跳線。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

3)將被測B類光纖鏈路接入,進(jìn)行測試得到光纖極性和12根通道的損耗,保存測試結(jié)果。

從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化

4)重復(fù)步驟2)至3),進(jìn)行下一根MPO(母-母)光纖鏈路的測試。

結(jié)束語

原有10GMPO測試的模型不再適合今后40G/100G的測試需要,LC接口的光源和光功率計(jì)導(dǎo)致MPO光纖鏈路測試次數(shù)和時(shí)間大大增加,一根12芯的MPO主干鏈路完整測試需要將近十分鐘,并且測試穩(wěn)定性較差。因此,需要使用帶有MPO接口的測試儀器進(jìn)行測試。同時(shí),EF環(huán)形通量控制代替了多模卷軸,增加了光纖鏈路測試的穩(wěn)定性和可靠性。100G傳輸采用十通道收和十通道發(fā)的模式較為復(fù)雜,IEEEP802.3bm40G/100G工作小組將會(huì)對(duì)100G的傳輸模式進(jìn)行改進(jìn),原有的十通道的收發(fā)模式將會(huì)被四通道代替。作為40G/100G的下一代,高達(dá)400G的以太網(wǎng)傳輸標(biāo)準(zhǔn)即將在明年啟動(dòng),預(yù)計(jì)使用OM4光纖。MPO接口的光纖鏈路在今后的部署將會(huì)越來越廣,不再局限于電信運(yùn)營商和數(shù)據(jù)中心等高端用戶,了解MPO光纖鏈路的傳輸模型和測試技術(shù)將有助于我們更好的駕馭未來的40G/100G高速通信傳輸通道。

參考文獻(xiàn):

[1]TheneedforEncircledFlux,realorimaginaryAdrianYoung


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